摘要:各类精密实验室及半导体生产厂房都具有隔振设计,但周围仍可能出现一些超限振动,为找到经隔振设施后转变为微 振动的干扰源,需对检测信号进行微振盲源分类与识别;因瞬态微振动信号低频、低幅值、持续时间短的特性,传统振动信号分 析手段很难解决此问题,因此本文提出一种基于 K-medoids 分类的场地微振动振源识别方法。 将长期监测数据通过预处理后 进行端点检测算法截取瞬态微振动信号;对提取到的信号进行归一化梅尔滤波系数特征提取,构成特征矩阵;将特征矩阵进行 基于动态时间归整距离的 K-medoids 算法聚类,并对场地周围包含的振源数进行估计;对各分类结果进行混合高斯模型建模, 采集怀疑振源的数据,并由模型概率阈值判断识别,找出影响严重的干扰源。 利用某场地 24 h 长期监测数据进行实验,成功找 到该场地平均幅值最大和出现频次最高的两类干扰振源,分类正确率达到 90. 57% ,识别率达到 96. 8% ,证明了本文方法的有效 性和准确性。