摘要:一般情况下电子产品在失效前性能已经发生退化,而传统的寿命预测方法没有利用退化信息。 以智能脱扣器电源模块 为研究对象,分析 MOSFET 开关周期和电路薄弱环节储能电容退化之间的关联关系,提出将 MOSFET 开关周期作为电源模块 性能退化的特征量,建立以 MOSFET 开关周期为特征参量的智能脱扣器电源模块性能退化模型;将电源模块划分为健康、注意 和危险 3 种健康状态,确定健康状态转移图和转移时间的计算方法,建立其健康状态评估模型;对电源模块进行温度应力下的 加速退化实验,验证性能退化模型和健康状态评估模型,并预测电源模块在 40℃ 工作环境下由健康状态转移至注意状态的平 均转移时间为 3 906 天,转移至危险状态的平均转移时间为 9 296 天。