摘要:为解决盲测工况下双层介质全聚焦成像困难的问题,提出了一种基于虚拟源(VS)的全聚焦(TFM)成像技术。 首先,利 用全矩阵数据集中的对角线信号一次界面回波飞行时间,在非规则双层介质界面建立一系列虚拟源点。 通过对虚拟源点插值 或拟合处理得到实现非规则介质界面的重建。 最后,通过重构的界面寻找可能的折射点,以满足盲测条件下非规则界面双层介 质 TFM 的成像条件。 盲测条件下的结果表明,VS-TFM 图像中的非规则界面和缺陷位置与实际吻合。 与基于虚拟源的合成孔 径聚焦技术(SAFT)相比,对于凸面试块,VS-TFM 图像的信噪比提升了 4. 66 ~ 13. 31 dB;对于凹面试块,VS-TFM 图像的信噪比 提升了 4. 74~ 12. 8 dB,且 API 值基本相同,成像时间几乎不增加。 因此,本文所提方法将全聚焦成像的应用对象拓展至盲测工 况下非规则双层介质。